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开关柜局放产生原因与测试技术

局部放电是指电气设备绝缘结构中某个区域内出现的放电现象,这种放电只是绝缘结构在该区域内被破坏,主绝缘并未发生贯穿性击穿,但若局部放电长期存在,在一定条件下可造成设备主绝缘电气强度的下降和损坏。绝缘结构中若存在局部电场较高(场强分布不均),或制造工艺不完善、运行中绝缘有机物分解、固体绝缘受机械力作用发生开裂等原因形成缺陷,运行中的这些部位就容易出现绝缘击穿、发生局部放电。
现在高压开关柜局放测试技术主要为地电波(TEV)和超声波(AE)两种方法。
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